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Built-in test for VLSI: Pseudorandom techniques
论文
1989
Integration
引用
866
DOI
VLSI and Analog Circuit Testing
Integrated Circuits and Semiconductor Failure Analysis
Electrostatic Discharge in Electronics
VLSI and Analog Circuit Testing
Integrated Circuits and Semiconductor Failure Analysis
Electrostatic Discharge in Electronics
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发表期刊/会议
Integration
发表日期
1989-09-01
发表年份
1989
关键词
VLSI and Analog Circuit Testing
Integrated Circuits and Semiconductor Failure Analysis
Electrostatic Discharge in Electronics
DOI
OpenAlex
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